概述
- I0 与复合直接相关,因此与材料质量成反比。
- 非理想二极管的指数分母中包含“n”项。 N 是理想因子,范围为 1-2,随着电流的减小而增大。
理想二极管
二极管方程给出了流过二极管的电流与电压的关系的表达式。理想二极管定律表示为:
$$I=I_{0}\left(e^{\frac{q V}{k T}}-1\right)$$
其中:
I = 流经二极管的净电流;
I0 = “暗饱和电流”,指在情况下的二极管漏电流密度;
V = 二极管两端施加的电压;
q = 电子电荷的绝对值;
k = 玻尔兹曼常数;和
T = 绝对温度 (K)。
“暗饱和电流”(I0) 是区分一个二极管之间极其重要的参数。 I0 用于衡量器件中的复合。复合较大的二极管将具有较大的 I0。重组参数的精彩讨论参见 1
注意:
- I0 随着 T 的增加而增加;
- I0 随着材料质量的提高而降低。
在 300K 时, kT/q = 25.85 mV,即“热电压”。
非理想二极管
对于实际的二极管,表达式变为:
$$I=I_{0}\left(e^{\frac{q V}{n k T}}-1\right)$$
其中:
n = 理想因子,为 1 到 2 之间的数字,通常随着电流减小而增加。
二极管方程绘制在下面的交互式图表上。改变饱和电流,来观察IV曲线的变化。请注意,虽然您可以简单地改变温度和理想因子,但所得 IV 曲线会产生误导。在模拟情况下,假设输入参数是独立的,但事实并非如此。在实际器件中,饱和电流很大程度上取决于器件温度。同样,改变理想因子的机制也会影响饱和电流。温度的影响在“温度影响”页面上有更详细的讨论。
下图说明了硅的二极管定律。升高温度会使二极管在较低电压下“开启”。
- 1. “The Recombination Parameter J0”, Energy Procedia, vol. 55, pp. 53 - 62, 2014.