准稳态寿命测量

准稳态寿命测量依赖于稳定光照射在样品上时存在的载流子数量。假设闪光的强度变化足够慢,使得样品中的载流子群体始终处于稳定状态。只要样品寿命小于闪光灯的特征衰减,就满足此条件。

生成率是通过测量射入电池的光量然后校正硅的反射率和吸收系数(参考)来确定的。

参考电池和载流子密度下的光照

少数载流子寿命(无俄歇校正)与载流子密度

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QSS 寿命测量