表征类型
表征有三种基本类型：
- 全区域测试
是指通过为每个硅片提供一个数据点， 来测试整个太阳能电池或硅片的大部分。测试速度通常足够快，足以对通过生产线的每个硅片进行在线表征，并且产生的数据适合用于统计过程控制（SPC）。全区域测试的一个例子是太阳能电池加工结束时的 IED 测试、硅片部分反射率等参数的测测试，或使用基于线圈的传感器的寿命测试。全区域测量的缺点是它无法揭示与区域相关的问题，例如硅片部分印刷不良。 - 测绘
测绘技术依靠逐点测量来扫描硅片表面。它们可以提供硅片上每个点的高精度，并揭示晶界或其他缺陷等缺陷。映射技术的缺点是覆盖整个硅片需要时间。例如，如果测量需要 0.1 秒，并且 1500x1500 数据点阵列需要 100 µm 的分辨率，则绘制整个硅片的时间将是 62 小时。较长的采样时间通常使得硅片测绘不适合在线表征。硅片测绘的一个示例是 LBIC 系统，其中激光扫描硅片表面，并从每个数据点读出电流。由于二维图像所需的时间，映射技术通常通过使用线扫描来简化。 - 成像
成像有点类似于拍照，测量技术使用传感器阵列同时对多个点进行采样。成像技术的优点是可以在相当短的时间内获取大量数据点。缺点是传感器的成本。由于类似于数码相机中使用的低成本硅 CCD 相机的出现，成像技术的作用日益增强。
电气特性
第一部分讨论中使用三种基本技术进行太阳能电池的电气测试：
- 光照 IV，在一个太阳光照射下电池并测量其基本参数
- 暗 IV，电池处于黑暗中并追踪电池 IV 特征
- Jsc Voc，其中 Voc 和 Isc 在不同的照明水平下记录
这三种技术有许多名称和技术变化。