瞬态寿命测量依赖于载流子随时间的衰减。载流子由非常短的光脉冲产生，并测量载流子密度随时间的衰减。少数载流子寿命越长，载流子衰减得越慢。
动画显示了短光脉冲后载流子的衰减。时间尺度比此处显示的要快得多，因为硅材料的典型载流子寿命最多在毫秒范围内。
光照时间和少数载流子密度。光脉冲非常短，载流子密度通常呈指数衰减。将鼠标移到图表上可以看到载流子密度衰减在对数刻度上是一条直线。
在上面的动画中，通过滑块控制少数载流子寿命。增加寿命会导致载流子衰减得更慢。
少数载流子寿命（无俄歇校正）与载流子密度