Optimización del Espaciado entre los Dedos

La combinación de las ecuaciones para pérdidas resistivas permite determinar la pérdida de potencia total en la malla de contacto superior. En la siguiente simulación gráfica se ajustan los diferentes parámetros y se determina la pérdida de potencia total. Para un tipo de célula típica, digamos una celda impresa por serigrafía, la resistividad del metal será fija y la anchura del dedo se controla con la serigrafía. Los valores típicos para la resistividad específica de la plata son 3 × 10^-8 Ω m 1. Para los dedos no rectangulares, el ancho se ajusta a la anchura real y se utiliza una altura equivalente para obtener el área transversal correcta. La simulación no incluye la pérdida de contacto entre el metal y el semiconductor o las pérdidas resistivas en las barras colectoras.

 El gráfico interactivo determina la potencia total y el espaciado óptimo de los dedos Click on the graph for numerical data.

• 1. A. Mette y et al, «Series resistance characterization of industrial silicon solar cells with screen-printed contacts using hotmelt paste», Progress in Photovoltaics: Research and Applications, vol. 15, pp. 493-505, 2007.